OCI是一款超高精度光学链路诊断仪，原理基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断。OCI可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱、时延等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度的高分辨测量。

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、偏振模色散、偏振相关损耗、群延时等光学参数。

FLA光纤链路分析仪，空间分辨率2mm，最长测量范围500m，最长支持定制2km，测量动态范围70dB。可选手持式版本，具有触屏、内置可充电电池等特点，可快速实现光纤长度测量、分布式回损测试、断点失效检测等。广泛用于飞机、通信网络、数据中心等场景的现场测试。

OLI基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测，可轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。设备采样分辨率最高可达1μm，同时最低可探测到-100dB光学弱信号， 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

OLI-P是基于白光干涉的分布式偏振串扰测试分析仪，采样分辨率优于2cm，噪声灵敏度最低可达-90dB。设备可高精度测量保偏光纤环、Y波导芯片等器件的分布式偏振串扰。通过偏振串扰测试，精准定位保偏光路中异常串扰点位置、分析连接头或耦合端面质量、测量保偏器件芯片的偏振消光比等。该产品可用于产品工艺设计改进或产线批量检测。

OSI系列分布式光纤传感系统基于光频域反射技术（OFDR），用于分布式应变、温度测量，传感空间分辨率高达mm量级，测量重复精度高达±0.1℃和±1με。该系统采用常规单模光纤作传感器，兼容高密度弱反射光纤光栅阵列，在一根光纤上可同时测量成千上万传感点，广泛应用于短距离、高分辨、高精度应变、温度测量领域。系统具备形状传感和三维应变、温度场重构功能。

FGI系列产品是一款解调速率高达100kHz的高速光纤光栅解调仪，波长重复精度达5pm，可以对FBG传感器中心波长进行高速解调。广泛应用于高频应变、振动，高速冲击，爆炸等高速动态测量环境，精准解析事件中的应变、频率等参数变化。